繞線組件測(cè)試解決方案

    繞線組件的質(zhì)量驗(yàn)證測(cè)試項(xiàng)目包含了AC/DC耐壓測(cè)試、IR絕緣電阻測(cè)試。Chroma 19035繞線組件電氣安規(guī)掃描測(cè)試器系列針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線組件廠商在質(zhì)量驗(yàn)證測(cè)試時(shí)，不但擁有可靠的質(zhì)量，能更有效率的為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。 
     Chroma 19035系列擁有5kVac/6kVdc高壓輸出，符合繞線組件之耐壓測(cè)試需求，最大輸出電流可達(dá)30mA。IR絕緣電阻測(cè)試可量測(cè)范圍為0.1MΩ到50GΩ，電壓輸出可達(dá)5kV。DCR直流電阻量測(cè)除了可量測(cè)繞線組件之基本規(guī)格，也可做為安規(guī)耐壓測(cè)試之前連接(接觸)檢查。 
     19035系列具有Flashover(電氣閃絡(luò))、OSC(開短路偵測(cè))等強(qiáng)大附加功能，以及可程序電壓值、時(shí)間參數(shù)等，針對(duì)不同的待測(cè)物特性，防止不良品輕易通過質(zhì)量驗(yàn)證，提升測(cè)試本身的信賴度及產(chǎn)品質(zhì)量。
 

   產(chǎn)品應(yīng)用

    19035系列為針對(duì)馬達(dá)、變壓器、加熱器等相關(guān)繞線組件測(cè)試需求，所設(shè)計(jì)的綜合安規(guī)測(cè)試器。大多數(shù)繞線組件具有多組繞組，如三相馬達(dá)、雙繞組變壓器等，利用19035八通道掃描，無需手動(dòng)切換測(cè)試點(diǎn)，達(dá)成多點(diǎn)一次測(cè)試完成，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。 
     19035系列提供OSC及DCR功能，檢驗(yàn)測(cè)試過程中是否接觸不良或有待測(cè)物短路的現(xiàn)象，解決馬達(dá)、變壓器等繞線組件測(cè)試時(shí)所發(fā)生的接觸問題，提升測(cè)試質(zhì)量及延長測(cè)試設(shè)備的壽命。 

• 針對(duì)不同的測(cè)試應(yīng)用，19035系列包含：
• 馬達(dá)、風(fēng)扇專用型：19035-M
• 簡易型 (微型馬達(dá))：19035-S
• 標(biāo)準(zhǔn)型 (開關(guān)、線材、變壓器、電熱管)：19035

   量測(cè)技術(shù)

    電氣閃絡(luò)偵測(cè)
 
    19035與Chroma其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。以漏電流判定常無法檢出不良。須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。 

   

   Ground Fault Interrupt (GFI) 人體保護(hù)電路

    安全的測(cè)試設(shè)備必須具備有操作員觸電時(shí)自動(dòng)切斷功能，即為GFI人體保謢電路。如圖可知，可由電流表A1及A2 分別得到i1及i2; 當(dāng)操作人員觸電時(shí)，電流表分別測(cè)得不同數(shù)值，其差異為i1 - i2 =iH , 當(dāng)i>H過高時(shí)，即判定為GFI不良，并會(huì)立即切斷輸出訊號(hào)，保障用戶的安全。 

    

   Open / Short Check (OSC) 開短路偵測(cè)

    OSC 功能為偵測(cè)測(cè)試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象，會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。
    一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(Cc)，一般低于10pF，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象，而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?，F(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判斷接線是否良好。 

   

    High Speed Contact Check (HSCC) 高速接觸檢查 

    高速接觸檢查功能是Chroma新研發(fā)的接觸檢測(cè)技術(shù)。HSCC可以快速的掃描待測(cè)物電路接觸是否正常。此新技術(shù)可以讓耐壓測(cè)試前的接觸檢查比以往更快速的完成。 

    

    DCR 直流電阻二線 / 四線測(cè)試

    Chroma 19035系列將DCR量測(cè)(二線/四線)列為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)項(xiàng)之一。二線量測(cè)適用于DCR較大的量測(cè)，四線量測(cè)因具有較高的準(zhǔn)確度，適用于DCR較小的量測(cè)。 

    

    溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation)

    當(dāng)量測(cè)較小的DCR值時(shí)，常會(huì)遇到溫差所造成的問題。當(dāng)量測(cè)時(shí)的溫度不同時(shí)，量測(cè)的阻值也會(huì)不同。因此19035加入了溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation)，經(jīng)由溫度系數(shù)的轉(zhuǎn)換，將DCR換算為標(biāo)準(zhǔn)溫度下量測(cè)的值，減少溫度差異造成的影響。 

    

    直流電阻平衡判定 (DCR Balance)

    DCR值通常與感量平衡有關(guān)。當(dāng)三組繞線馬達(dá)的DCR不平衡時(shí)，導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)不平衡，長期使用后會(huì)造成質(zhì)量不良。DCR平衡判定將繞組的最大最小值相減，若超過設(shè)定值范圍即為不良品，是馬達(dá)類產(chǎn)品長期可靠度測(cè)試的輔助工具。

    

    馬達(dá)/直流風(fēng)扇半成品電氣測(cè)試

    馬達(dá)、直流風(fēng)扇等旋轉(zhuǎn)電機(jī)之半成品，含定子及轉(zhuǎn)子二部份，皆需進(jìn)行耐壓、直流電阻、層間短路等電氣掃描測(cè)試。19035-M無須計(jì)算機(jī)控制，單機(jī)提供DCR四線量測(cè)，以8組分離式測(cè)試端點(diǎn)(Drive和Sense分離)，讓您可以一次掃描測(cè)試二顆待測(cè)物，提高生產(chǎn)產(chǎn)能。 通道CH 1, 2, 3, 5, 6, 7可設(shè)定為高壓輸出/關(guān)閉。通道 CH 4, 8 可設(shè)定為參考端/關(guān)閉。 

    

    次測(cè)項(xiàng)功能 - 繞線組件多顆測(cè)試

    生產(chǎn)廠商為了提升耐壓測(cè)試效率，常以并聯(lián)測(cè)試做為解決方法。但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出或良品判為不良品；以及不良時(shí)需至后測(cè)站進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。
    為解決并聯(lián)測(cè)試的困擾，19035系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物。此功能的導(dǎo)入，將大幅提升產(chǎn)線的耐壓測(cè)試效率。 

   

     例：

     Step 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
     Sub step A: AC Hipot / pin1 to pin5
     Sub step B: AC Hipot / pin1 to pin6
     Sub step C: AC Hipot / pin1 to pin7 

    

    40通道掃描測(cè)試

    每個(gè)選配件A190359掃描儀提供16個(gè)測(cè)試通道，每個(gè)通道都可設(shè)定為H(高壓輸出)、L(參考點(diǎn))或是Off(不設(shè)定)。19035與A190359的組合可讓繞線組件測(cè)試更有效率。19035配合兩臺(tái)A190359，測(cè)試通道更可達(dá)40組，對(duì)于多腳或多顆待測(cè)物可以一次完成接觸檢查及測(cè)試。